EB200E
Speed monitoring with cost-efficient connection and parameterization flexibility
The selected altAttribute does not exist!


Producto

Ventajas

 

  • Diseño compacto de la máquina
    • Baja profundidad de instalación de solo 12 mm gracias al muestreo radial 
    • Integración flexible para diámetros de eje de hasta 48 mm
  • Funcionamiento continuo y fiable incluso en condiciones extremas
    • Muestreo magnético sin contacto y sin desgaste
    • Resistente a la suciedad 
    • Resistente a choques e impactos
  • Integración eléctrica rentable con IO-Link
    • Supresión de módulos contadores PLC
    • Uso de cables IO-Link estándar
    • PROFINET o Ethernet/IP a través del IO-Link Master para hasta ocho encoders
  • Nuevas posibilidades para la puesta en marcha, el servicio y el mantenimiento
    • Parametrización sencilla con el Baumer Sensor Suite
    • De este modo, se reduce el almacenamiento
    • El diseño sin desgaste reduce al mínimo los períodos de inactividad
    • Datos adicionales a través de IO-Link
  • Fácil adaptación de las aplicaciones existentes
    • Control sencillo de los procesos existentes mediante el Speed Monitor parametrizable sin componentes adicionales
    • Por ejemplo, control de la sobrevelocidad de la cinta transportadora o del rango de revoluciones del ventilador
       

Aplicaciones

Tecnología

El muestreo magnético permite grandes distancias entre el sensor y la medida materializada (normalmente un anillo magnético o un imán central). Esto significa que pueden estar estructuralmente separados y que se puede prescindir de los rodamientos de bolas de precisión que suelen utilizarse en los encoders.

Las tolerancias de montaje son relativamente elevadas. Esto ofrece más flexibilidad en la construcción y el montaje. Al mismo tiempo, la ausencia de rodamientos no produce un desgaste convencional. De esta forma, los encoders resisten al polvo, la suciedad o las fibras textiles, resisten las corrientes del eje o a las cargas de los rodamientos y resisten a las vibraciones y los impactos.


Descargas
Technical and Application Reports / White Paper


Hasta la cima